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专利名称：IC手动测试装置专利类型：实用新型专利发明人：谢名富,吴成君申请号：CN201720494531.X申请日：20170505公开号：CN206696398U公开日：20171201
摘要：本实用新型提出IC手动测试装置，包括测试轨道、吹气装置和若干测试站；所述测试轨道的始端处设有芯片入口，测试轨道的宽度与芯片宽度匹配；所述测试站、吹气装置沿测试轨道设置；吹气装置向测试轨道吹气以推动微型芯片在测试轨道上顺畅滑动；所述测试站包括定位器和测试夹片；所述定位器包括由定位气缸驱动的挡针；所述挡针指向测试轨道的传输面；所述测试夹片位于测试轨道两侧，测试夹片上设有与芯片引脚匹配的金手指；当手动检测时，作业人员操控挡针拦阻测试轨道上滑移的微型芯片使之停于测试站处，然后测试夹片夹持芯片两侧使金手指与芯片引脚接触以进行测试；本产品能以轨道和挡针对微型芯片进行良好定位以方便手动检测。
申请人：福州派利德电子科技有限公司
地址：350012 福建省福州市仓山区盖山镇阳岐支路10号1栋4楼
国籍：CN
代理机构：福州元创专利商标代理有限公司
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