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专利名称：恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统专利类型：实用新型专利
发明人：陈建松,王一民,张贻海,吕振兴,崔立志申请号：CN201220708414.6申请日：20121219公开号：CN202975165U公开日：20130605
摘要：本实用新型涉及恒温晶体振荡器，特别是一种恒温晶体振荡器拐点电阻测试系统。包括电源、测试控制板、频率测量仪、计算机，所述测试控制板上允许有多个通过选通开关控制接通的测试单元，每个测试单元均由待测试的恒温晶体振荡器和与恒温晶体振荡器连接的桥路电阻组成，所述桥路电阻是两个并联的数字电位器；所述计算机与测试控制板上的选通开关并口连接，与桥路电阻中的数字电位器串口连接，计算机通过PIC-DIO-96卡自动采集数据；所述频率测量仪与恒温晶体振荡器连接，并通过GPIB接口总线与所述计算机连接。本实用新型实现了恒温晶体振荡器拐点电阻的自动批量化调试，提高了调试精度，节省人工成本，提高生产效率。
申请人：同方国芯电子股份有限公司
地址：0100 河北省唐山市玉田县无终西街3129号
国籍：CN
代理机构：唐山永和专利商标事务所
代理人：张云和
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