专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：一种集成电路测试的检测平台专利类型：实用新型专利发明人：邹德顺,王丽娜申请号：CN201821791929.0申请日：20181101公开号：CN209102315U公开日：20190712
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试的检测平台，包括底板和位于其上方的活动板，所述底板的顶端四角均安装有伸缩柱，伸缩柱的顶端连接有活动板，底板的顶端中间位置转动连接有垂直设置的第一螺纹杆，第一螺纹杆的侧壁底端安装有第一转动手柄，第一螺纹杆上螺纹连接有连接环，连接环的两侧侧壁上均铰接有连接杆，连接杆的顶端铰接在活动板的底端侧壁上，所述活动板的顶端两侧均焊接有垂直设置的侧板，两个侧板之间滑动连接有水平设置的安装板。本实用新型能够对检测平台的高度进行调整，方便适应不同高度的测试人员，能够带动集成电路进行振动，检测集成电路的抗振性能。
申请人：广州树阳电子科技有限公司
地址：510000 广东省广州市黄埔区南翔一路50号四栋511房
国籍：CN
代理机构：六安市新图匠心专利代理事务所(普通合伙)
代理人：陈斌
更多信息请下载全文后查看
