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专利名称：多发光样品发光强度的测量系统及方法专利类型：发明专利发明人：高琛,何潭,陈根,鲍骏申请号：CN201910610011.4申请日：20190708公开号：CN110208254A公开日：20190906
摘要：本发明公开了一种多样品发光强度的测量系统及方法，本发明技术方案基于光纤束对多个发光样品的发光强度进行快速测量，能够同时高效率地采集大量微弱发光信号，便于实现快速分析处理，同时也兼具成本低、制作简单和使用范围广的优点。
申请人：中国科学技术大学
地址：230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
国籍：CN
代理机构：北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：张静
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