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专利名称：一种标准显微硬度计专利类型：发明专利发明人：石伟,李杨
申请号：CN201811525568.X申请日：20181213公开号：CN109342179A公开日：20190215
摘要：本发明公开的一种标准显微硬度计，属于计量领域。本发明包括依次连接的，试验力加载系统、压痕测量系统、塔台转换系统、自动聚焦系统。试验力加载系统、压痕测量系统、塔台转换系统、自动聚焦系统均受控于控制模块；进行硬度试验时，试验力加载系统产生所需试验力值，并通过压头施加在试样表面，自动聚焦系统带动试样完成对焦，通过塔台转换系统的旋转，使得压痕测量系统对准所得压痕进行测量。本发明测试下限为0.0098N，且具有如下优点：(1)能够在保证试验测量精度的前提下，扩大试验力测量范围，(2)聚焦控制精度高，能够避免失焦现象，保证对焦过程中的垂直度。本发明能够为新材料及工艺的发展提供切实有效可靠的技术保障。
申请人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
地址：100095 北京市海淀区温泉镇环山村
国籍：CN
代理机构：北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：邬晓楠
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