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晶圆测试探针台退片针扎下去

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在晶圆测试过程中,退片针的精准操作至关重要。该针在扎下去的时候,必须确保良好的电接触,同时避免对晶圆和探针卡造成损坏。一旦操作失误,可能会引发良率下降和现场故障。
为了平衡这一精确操作,必须遵循精细的晶圆探测工艺流程,并严格监控相关工艺参数。这些过程往往不为人所见,但它们对整个测试结果至关重要。
此外,晶圆测试在机械精度和合金技术上的复杂性往往在芯片设计、测试设计,甚至在工程师制定测试策略和内容的过程中被忽视。然而,这并不减少它在整个产品开发过程中的重要性。

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